Organizan: ETSIT‑UPM · IEEE AP‑S TCAM · IEEE AP/SC · IEEE AP/MTT Spain Chapter · AMTA Spain Node
Fecha y horario: viernes, 12 de septiembre de 2025, 09:30–15:00 (CEST)
Lugar: Salón de Actos (Edificio C), ETSI de Telecomunicación, Universidad Politécnica de Madrid. Ciudad Universitaria, Avda. Complutense 30, 28040 Madrid.
Formato: Presencial con retransmisión en línea
Inscripción: eventos.upm.es/138630
Acceso en línea (Zoom)
Descripción
Este workshop, coorganizado por la ETSIT‑UPM, IEEE AP‑S TCAM, IEEE AP/SC, el capítulo conjunto IEEE AP/MTT Spain y el nodo AMTA Spain, explora los nuevos retos en la medida de antenas y pone el foco en las tendencias que marcarán los próximos años. Contaremos con algunas de las personas más reconocidas de la comunidad para compartir su visión y discutir estándares, infraestructuras y metodologías de medida de última generación. La actividad está abierta a cualquier persona interesada.
Programa y participantes
- Vince Rodriguez (TCAM & NSI‑MI)
Tapered chambers - Vikass Monebhurrun (CentraleSupélec, Francia)
IEEE/AP‑S Standards - Mohammad Azadifar (EM‑Path, Lausana)
Novel Methods for Real‑Time 3D Pattern Measurements - Lars J. Foged (MVG, Italia)
IEEE/AP‑S Measurements Standards - Manuel Sierra Castañer (UPM)
Spain ICTS proposal and AMTA Spain Node
Horario: 09:30–15:00
Idioma: inglés.
Público objetivo
- Personal investigador y profesional en metrología electromagnética y medida de antenas.
- Doctorado/as y alumnado de máster en telecomunicación y áreas afines.
- Industria vinculada a cámaras anecoicas, estándares de medida y validación de equipos.
Inscripción y acceso
- Registro (gratuito, plazas limitadas): Formulario de la UPM.
- Streaming (Zoom)
Información práctica
- Cómo llegar: Metro Ciudad Universitaria (L6) · Bus EMT líneas 82, 132, G.
- Ubicación exacta: Salón de Actos, Edificio C, ETSI de Telecomunicación (UPM).
Organización: ETSIT‑UPM · IEEE AP‑S TCAM · IEEE AP/SC · IEEE AP/MTT Spain Chapter · AMTA Spain Node.
Contacto: Para consultas, escribir a la organización de la ETSIT‑UPM.
